元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。元器件冷卻系統(tǒng)測試chiller unit解答
更新時間:2024-01-06
廠商性質:生產廠家
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